Record Details

Sistem Diagnosis Kerusakan pada Iphone dengan Metode Dempster Shafer

Jurnal Pengembangan Teknologi Informasi dan Ilmu Komputer

View Archive Info
 
 
Field Value
 
ISSN 2548-964X
 
Authentication Code dc
 
Title Statement Sistem Diagnosis Kerusakan pada Iphone dengan Metode Dempster Shafer
 
Added Entry - Uncontrolled Name Eginata, Yusril Iszha
Hidayat, Nurul
Soebroto, Arief Andy
Fakultas Ilmu Komputer, Universitas Brawijaya
Fakultas Ilmu Komputer, Universitas Brawijaya
Fakultas Ilmu Komputer, Universitas Brawijaya
 
Summary, etc. Smartphone merupakan perangkat yang memiliki keunggulan dibandingkan alat komunikasi lainnya. Kerusakan Smartphone itu wajar dan normal, begitu juga dengan kerusakan iPhone, contoh kerusakan mulai baterai cepat habis, tidak ada gambar di layar, kamera tidak berfungsi dll. Namun, teknisi menghadapi kendala saat mendiagnosis cacat iPhone, yang mengakibatkan kinerja teknisi kurang optimal. Sistem pakar ini menggunakan metode Dempster-Shafer. Kesimpulan dibuat berdasarkan gejala kerusakan iPhone yang ada, dan frekuensi setiap gejala ditentukan oleh teknisi Smartphone. Dari perhitungan densitas terlihat kerusakan yang terjadi pada iPhone, sistem memiliki 20 gejala kerusakan dan 14 jenis kerusakan. Tujuan penelitian ini adalah untuk membantu teknisi menentukan kerusakan yang terjadi pada iPhone, yang akan memilih gejala dan memberikan hasil penelitian ini skor akurasi 90%.
 
Publication, Distribution, Etc. Fakultas Ilmu Komputer (FILKOM), Universitas Brawijaya
 
Electronic Location and Access application/pdf
http://j-ptiik.ub.ac.id/index.php/j-ptiik/article/view/12330
 
Data Source Entry Jurnal Pengembangan Teknologi Informasi dan Ilmu Komputer; Vol 7 No 2 (2023): Februari 2023
 
Language Note ind
 
Terms Governing Use and Reproduction Note Hak Cipta (c) 2023 Jurnal Pengembangan Teknologi Informasi dan Ilmu Komputer
 


www.freevisitorcounters.com